雷泰（Raytek）公司成立于 1963 年，設計、制造、銷售和維護完備的非接觸式紅外溫度測量儀器，產(chǎn)品被廣泛用于工業(yè)、過程控制和維護應用。
使用紅外測溫儀的優(yōu)勢
紅外技術已經(jīng)被成功應用至工業(yè)和研究設置領域，隨著成本降低和可靠性提高的不斷創(chuàng)新和發(fā)展，紅外技術已經(jīng)實現(xiàn)了可提供更小測量單位的傳感器。所有這些因素都促使紅外技術受到新應用和用戶的廣泛關注。
非接觸式溫度測量具有哪些優(yōu)勢？
節(jié)省時間 -- 典型的紅外溫度測量耗時小于500 mS。
測量移動目標。
測量危險或無法接觸的物體（高壓部件、較大的測量距離）。
測量高溫（高于1300°C）
無能量干擾或能量損耗。
沒有對目標造成污染和機械影響的風險。
RAYTEK 測溫 A9HM3IBUO2U
RAYTEK 紅外測溫傳感器（鏡頭式） RAYTXCLTSF S/N.203387
RAYTEK 固定式紅外測溫儀 TXCLTSF-18～500℃
RAYTEK 測溫儀 ST80 紅外測溫儀
RAYTEK 紅外線測溫儀 ST-20(0-300℃)
RAYTEK 備件 ST18
RAYTEK 吹掃器 XXXMIACAJ
RAYTEK 便攜式測溫儀 3I2ML3 200～1800℃
RAYTEK 紅外線測溫儀 ST20XB
RAYTEK 紅外測溫探頭 MID10LT,4-20mA
RAYTEK 紅外測溫儀 MODEL:RAYR3I2ML3U LOT#:2047670201 SERIAL#:23659
RAYTEK 測器保護窗 XXXMIACPW
RAYTEK 備件 F4JM13100AC MAT.NO:7179279
RAYTEK 涂膠閥 97134
RAYTEK 備件 MARATHON MM 2ML
RAYTEK 甩膠器 97134-115H
RAYTEK 測溫儀 MR1SBSF 雙色紅外測溫儀
RAYTEK 高精度紅外線測溫儀 MM1MHSF2L
RAYTEK 測溫儀 RAYFR1ASF001
RAYTEK 控制箱 RAYMI3COMM4
RAYTEK 探頭 RAYTXCLTSFW 紅外線測溫探頭
RAYTEK 點溫儀 ST20
RAYTEK 紅外測溫儀 RAYFR1-A-SF003(500℃-1100℃)
RAYTEK 毛細管針頭 97289
RAYTEK 高溫計附件 F4JM13100ACMAT.NO:7179279
RAYTEK 保護套 TXXTJ4M
RAYTEK 高溫計 RAYM131002MSF3CB15 MAT.NO:7178686 BE
RAYTEK 紅外測溫儀熱保護套 RAYTXXTJ3 備注：與RAYTXCLTSF型測溫儀 含空氣吹掃器：TXXACAP 配合使用
RAYTEK 輻射高溫計 RAYTX-C-LT-SF-W/CERT
RAYTEK 備件 DB4058/MR25K/
RAYTEK 測溫儀 RAYR312ML3U 200-1800℃
RAYTEK 紅外線測溫儀 紅外線測溫儀ST60紅外線測溫儀RAYST60XBAP
RAYTEK 紅外測溫儀 FLT(250-1100度）
RAYTEK 紅外輻射測溫儀 紅外輻射測溫儀MT4
RAYTEK 紅外測溫儀熱保護套可調(diào)安裝基座 XXXTXXACMB
正確的紅外溫度測量的主要因素
為了確保正確的非接觸式紅外溫度測量，請注意以下幾點：
至目標（光點）的距離比
視場
環(huán)境條件
環(huán)境溫度
發(fā)射率
至目標（光點）距離比
紅外傳感器的光學系統(tǒng)收集圓形測量點的能量并將其匯聚于探測器。光學分辨率由設備至物體的距離與被測光點的大小的比值(D:S比)決定。比值越大，設備的分辨率越好，可以從更遠的距離測量更小的光點。紅外光學的創(chuàng)新是增加了近焦特性，提供小目標區(qū)域的準確測量，不含不希望的背景溫度。
視場
確保目標大于設備正在測量的光點尺寸。目標越小，您應該離得越近。當準確性尤為重要時，確保目標至少是光點尺寸的兩倍。
環(huán)境條件
留意工作區(qū)域的環(huán)境條件。蒸汽、灰塵、煙霧等會阻擋設備的鏡頭，從而妨礙測量。安裝開始之前，還應該考慮噪聲、電磁場或震動等其它條件。保護外殼、空氣凈化，以及空氣或水冷可保護傳感器，確保準確測量。因此，某些Raytek產(chǎn)品，如Thermalert和Marathon系列傳感器，含空氣凈化功能。
環(huán)境溫度(周圍溫度)
如果測溫儀被暴露于溫差大于20℃的突發(fā)環(huán)境下，請保持至少20分鐘讓其適應新的環(huán)境溫度。Raytek固定式傳感器針對特殊環(huán)境溫度范圍進行了性能優(yōu)化設計。例如，Raytek MIH 可承受高達180°C (356°F)的環(huán)境溫度（無水冷或空氣制冷）。對于高環(huán)境溫度，Raytek提供空氣制冷和水冷選件以及附件，例如耐高溫保護套。
發(fā)射率
發(fā)射率是物體輻射紅外能量的能力的測量量。輻射的能量指示物體的溫度。發(fā)射率的取值范圍為0（光潔的鏡面）至1.0（黑體）。了解發(fā)射率和各種材料的發(fā)射率值。
雷泰MP150 線掃描測溫儀提供、寬范圍、實時、邊緣到邊緣的溫度測量，實時過程的彩色熱圖像，特別適用于連續(xù)和離散工業(yè)過程的溫度監(jiān)視、圖像掃描、分析及控制。每秒150線的超高掃描速率，內(nèi)置線掃描激光瞄準器，提供TCP/IP 和以太網(wǎng)接口的高性能MP150線掃描測溫儀，其價格大大低于目前市場上同類掃描測溫儀產(chǎn)品的價格，并且具有更強大的功能，是工業(yè)用戶的*選擇。雷泰 MP150自帶空氣吹掃/水冷卻系統(tǒng)，可設置三個模擬輸出和雙路數(shù)字通訊。
專為玻璃生產(chǎn)和二次玻璃加工所設計的紅外測溫系統(tǒng)
GS150 和 GS150LE 玻璃行業(yè)的溫度成像及分析系統(tǒng)，為用戶提供快速、的、非接觸溫度測量。實時的溫度監(jiān)測使得玻璃和二次加工玻璃的制造獲得以下益處：提高產(chǎn)量和成品率、改善過程控制、提高產(chǎn)品一致性、提高產(chǎn)品質(zhì)量、減少停機時間。特別適用于玻璃彎曲、玻璃成型、玻璃退火、鍍膜玻璃、鋼化玻璃等玻璃的生產(chǎn)過程。
專門用于塑料薄膜擠壓處理的紅外熱成像系統(tǒng)
EC150: 用于擠出薄膜、擠出涂布和覆合加工過程的溫度監(jiān)測及熱成像系統(tǒng)
ES150: 用于薄膜擠壓處理過程的溫度監(jiān)測及熱成像系統(tǒng)
TF100: 用于塑料成型過程的溫度監(jiān)測及熱成像系統(tǒng)
專門用于水泥回轉(zhuǎn)窯窯體溫度監(jiān)測的紅外掃描成像系統(tǒng)
CS210系統(tǒng)可提供實時的回轉(zhuǎn)窯窯體溫度分析和熱像圖、曲線圖，所有的數(shù)據(jù)和曲線都存儲在一個可調(diào)用的數(shù)據(jù)庫中，通過數(shù)據(jù)比對，可提前防止生產(chǎn)事故的發(fā)生.
專門用于石膏板生產(chǎn)工藝中溫度監(jiān)測的紅外掃描成像系統(tǒng)
TRS100: 監(jiān)測漿體的溫度
TIP450E: 專門用于石膏板生產(chǎn)的溫度監(jiān)測熱成像系統(tǒng)，提供實時的石膏板表面成像，實時圖表和歷史趨勢圖表，幫助用戶準確地了解石膏板的干燥超時情況。
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